ICP-OES - Optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

Die ICP-OES ist ein Analyseverfahren zur Bestimmung von Elementkonzentrationen über einen Konzentrationsbereich von µg/l bis g/l. 

Mit dem Agilent 5100 ICP-OES mit vertikalem Dual View (VDV) ist sowohl eine axiale als auch radiale Plasmabeobachtung bei vertikal angeordneter Fackel möglich. Die simultane Messung ermöglicht kurze Messzeiten wodurch Anwendungen mit hohem Probendurchsatz ebenso wie die Bearbeitung von Proben mit sehr kleinen Probenvolumina möglich sind.

Die Software bietet mehrere Möglichkeiten der Untergrundkorrektur. Die Fast-AutomatedCurve-fitting Technique (FACT) eignet sich hervorragend zur Interferenzkorrektur komplexer Spektren. Die Kalibrierung des Spektrometers kann mit Single- oder Multi-Element-Standardlösungen als externe Kalibrierung als auch durch Analytaddition erfolgen. 

Das 5100 ICP-OES wird zur Bestimmung von Haupt- und Spurenelementkonzentration in geologischen Probenmaterialen, sauen und wässrigen Probelösungen eingesetzt. Die zu analysierende Probe muss in flüssiger Form vorliegen. Festes Probenmaterial wird mittels geeignetem Aufschlussverfahren in Lösung gebracht. 

Analysen

• Bestimmung der Seltenen Erd Elemente + Y + Sc, Li, B, Al, Be, Co, Fe, K, Mg, Mn, Ti
• Abhängig von der Aufschlussmethode, dem Probenmaterial und der Elementkonzentration in der Probe ist auch die Bestimmung weiterer Elemente nach Absprache möglich.

Gerät

Agilent 5100 ICP-OES mit vertikalem Duel View (VDV)
Autosampler SPS4

Software

ICP-Expert