ICP-OES: Optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

Die ICP-OES ist ein Analyseverfahren zur Bestimmung von Elementkonzentrationen über einen Konzentrationsbereich von µg/l bis g/l. 

Mit dem Agilent 5100 ICP-OES mit vertikalem Dual View (VDV) ist sowohl eine axiale als auch radiale Plasmabeobachtung bei vertikal angeordneter Fackel möglich. Die simultane Messung ermöglicht kurze Messzeiten, wodurch Anwendungen mit hohem Probendurchsatz ebenso wie die Bearbeitung von Proben mit sehr kleinen Probenvolumina möglich sind.

Die Software bietet mehrere Möglichkeiten der Untergrundkorrektur. Die Fast Automated Curve-fitting Technique (FACT) eignet sich hervorragend zur Interferenzkorrektur komplexer Spektren. Die Kalibrierung des Spektrometers kann sowohl mit Single- oder Multi-Element-Standardlösungen als externe Kalibrierung als auch durch Analytaddition erfolgen. 

Das 5100 ICP-OES wird zur Bestimmung der Konzentration von Haupt- und Spurenelementen in geologischen Probenmaterialen in sauren und wässrigen Probenlösungen eingesetzt. Die zu analysierende Probe muss in flüssiger Form vorliegen. Festes Probenmaterial wird mittels geeignetem Aufschlussverfahren in Lösung gebracht. 

Analysen

• Bestimmung der Seltenen Erdelemente und Y, Sc, Li, B, Al, Be, Co, Fe, K, Mg, Mn, Ti
• abhängig von der Aufschlussmethode, dem Probenmaterial und der Elementkonzentration in der Probe ist auch die Bestimmung weiterer Elemente nach Absprache möglich

Gerät

Agilent 5100 ICP-OES mit vertikalem Dual View (VDV)
Autosampler SPS4

Software

ICP-Expert